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5月4日，IEEE EDS广州分会如期召开第十六届研讨会，本次会议主题为“未来先进集成电路中的ESD防护”。会议由IEEE EDS、电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室、华南理工大学联合主办，来自工信部电子五所、华南理工大学、中山大学、广东工业大学等的研究学者、工程师和师生参加了此次会议。

主办方邀请IEEE fellow、IEEE EDS杰出讲师Juin J. Liou教授做了题为“Outlook and Challenges of Electrostatic Discharge (ESD) Protection of Modern and Future Integrated Circuits”的主题报告。Juin J. Liou教授深入浅出、启发式地介绍了ESD基础知识，以及Si CMOS、Si BiCMOS、GaAs、GaN和新兴技术中ESD防护设计、优化和实现的困难和挑战。报告后，参会者与Juin J. Liou教授进行了热烈的讨论和交流。